x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：192

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• 詞條

  詞條說明

• X光鍍層測(cè)厚儀詳細(xì)分析功能說明

  ? ? ?X光鍍層測(cè)厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,*購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.? ? ?

• 有關(guān)x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細(xì)解說

  ? ? ? x射線鍍層測(cè)厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷、待機(jī)時(shí)間長等特點(diǎn)；且具有自動(dòng)關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能。它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、

• X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。 X光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的

• x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多