熒光光譜測(cè)厚儀選擇要注意哪些要素

時(shí)間：2022-06-20作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：219

熒光光譜分析儀在我們生產(chǎn)生活的方方面面都有應(yīng)用。隨著技術(shù)的進(jìn)步，熒光光譜分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣泛。市面上的熒光光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家越來越多，我們?cè)谶x擇熒光光譜測(cè)厚儀的時(shí)候難免蒙圈，那熒光光譜測(cè)厚儀在選擇的時(shí)候需要注意哪些要素呢?今天就個(gè)一六儀器的小編來了解一下吧。

光譜儀測(cè)量結(jié)果是否可靠，第一步是要求測(cè)試 激發(fā)用的X熒光要全部照射在被測(cè)物目標(biāo)點(diǎn)上， 所以必須控制好光斑大小，那么較小測(cè)量面積 就成了關(guān)鍵性能指標(biāo)(光斑越小越難聚集)

由于X熒光**到不同距離的強(qiáng)度和光斑大小都 在變化，加上接收特征X熒光的角度和距離也在 變化，測(cè)量結(jié)果則會(huì)出現(xiàn)很大偏差 一臺(tái)好的光譜儀除了能測(cè)試微小樣品的同時(shí)，應(yīng)該具備可以測(cè)試凹面底部、杯子底部、L形 的內(nèi)面等多種形狀和位置

好的光譜測(cè)厚儀具備變焦+對(duì)焦功能，應(yīng)對(duì)曲面、深凹槽可達(dá) 0-90mm的異形件，甚至面對(duì)高低落差不一致， 峰形起伏的**復(fù)雜樣品也可高效檢測(cè)。除了檢測(cè)應(yīng)對(duì)不同外形的樣品還要盡量測(cè)試多的含有元素成分和鍍層厚度。

以上就是熒光光譜測(cè)厚儀廠家一六儀器對(duì)于熒光光譜測(cè)厚儀的相關(guān)介紹，如果你想要了解多內(nèi)容，歡迎聯(lián)系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)，在微小面積、異形高低面探測(cè)、多層多元素與多層同元素的檢測(cè)上，都具備佳的表現(xiàn)。





江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• X熒光光譜儀在區(qū)域地質(zhì)勘察中應(yīng)用

  利用 X射線熒光光譜儀器對(duì)地質(zhì)勘察中采集的樣品粉末進(jìn)行多元素測(cè)定非常，能快準(zhǔn)確、高精度地得到檢測(cè)結(jié)果。對(duì)于不同區(qū)域的地質(zhì)勘察樣品，能利用專業(yè)計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，提高了分析準(zhǔn)確性和效率。通常區(qū)域化測(cè)試中需要測(cè)定39種不同的元素，而X射線熒光光譜儀就能對(duì)其中的26種進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)定。目前X射線熒光光譜儀進(jìn)行測(cè)定工作流程比較完整，在結(jié)合其他化學(xué)探樣品分析方法后，多元素測(cè)定的效果很好，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益和

• 一六儀器生產(chǎn)的XAU系列儀器為什么那么受歡迎？

  XAU系列熒光光譜儀，采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用**EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了**測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。今天就跟著熒光光譜分析儀生產(chǎn)廠家一六儀器來詳細(xì)了解一下XAU系列產(chǎn)品吧。XAU系列產(chǎn)品概述：較廣的檢測(cè)范圍可測(cè)試較低檢出限、較高精度要求的產(chǎn)品;可視化雙向操作： 實(shí)時(shí)監(jiān)控儀器各項(xiàng)數(shù)據(jù)，軟硬件雙向可操控設(shè)計(jì)，方便快捷。

• 熒光光譜儀生產(chǎn)廠家教你如何去評(píng)估光譜儀的好壞

  我們?nèi)绻x擇一臺(tái)好的熒光光譜儀，首先需要要避免的誤區(qū)是僅僅看儀器的配置是什么。熒光光譜儀是否是的，較終應(yīng)該是體現(xiàn)在其應(yīng)用水平上，首先保證是否可以滿足需求的功能，達(dá)到元素識(shí)別、產(chǎn)品評(píng)估、定位、生產(chǎn)管控等目的。今天就跟著熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來看一看吧。1.較小測(cè)量面積熒光光譜儀是否可以測(cè)試微小樣品，目前**的較小可以測(cè)到0.05mm直徑，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位測(cè)試。2.可測(cè)樣品的形狀熒光光

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行，國(guó)家質(zhì)檢總局發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進(jìn)行貴金屬含量的無損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)