北京時(shí)間10月6日下午6時(shí)許,2020年諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)揭曉。Roger Penrose、Reinhard Genzel、Andrea Ghez獲獎(jiǎng)。英國(guó)科學(xué)家Roger Penrose“由于發(fā)現(xiàn)黑洞的形成是廣義相對(duì)論的一個(gè)有力預(yù)測(cè)”而被授予了諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。德國(guó)科學(xué)家和美國(guó)科學(xué)家Reinhard Genzel、Andrea Ghez因“在銀河系中心發(fā)現(xiàn)了一個(gè)**大質(zhì)量的致密物體”而被授予諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。 Roger Penrose將享有一半獎(jiǎng)金,Reinhard Genzel和Andrea Ghez將分享另一半獎(jiǎng)金。 今年,每項(xiàng)諾貝爾獎(jiǎng)獎(jiǎng)金額為1000萬瑞典克朗(約合人民幣760萬元),比2019年增加100萬瑞典克朗。 來源:中國(guó)科學(xué)報(bào) 延伸閱讀《茍利軍:黑洞研究的歷史》 黑洞本身是一個(gè)引力非常強(qiáng)的天體,要追溯黑洞的歷史,要追溯到人們對(duì)萬有引力的認(rèn)識(shí)。 萬有引力的發(fā)現(xiàn)可以追溯到17世紀(jì),牛頓坐在蘋果樹下面看到蘋果掉下來,激發(fā)了靈感。他不僅僅意識(shí)到這種現(xiàn)象,而且寫下了公式,那就是有關(guān)于引力的萬有引力公式。在此基礎(chǔ)之上,牛頓得到了人們所熟知的逃逸速度公式。 在此之后,更多科學(xué)家根據(jù)牛頓的理論作了進(jìn)一步的應(yīng)用和推廣。在18世紀(jì)的法國(guó),數(shù)學(xué)家拉普拉斯想象在宇宙當(dāng)中有可能會(huì)存在著一種天體,它非常致密,以至于從它自身發(fā)出的光都不能夠從它周圍逃脫出來?,F(xiàn)在看來這天體就是較樸素的對(duì)于黑洞的一種想法。 到了19世紀(jì),更多科學(xué)家的觀測(cè)對(duì)于牛頓的理論提出了一些挑戰(zhàn)。到20世紀(jì)初的時(shí)候,物理學(xué)家愛因斯坦首先提出了狹義相對(duì)論,在十年之后又提出了廣義相對(duì)論,對(duì)引力提出了顛覆性的認(rèn)識(shí),比如認(rèn)為引力場(chǎng)其實(shí)并不是由質(zhì)量引起的,而是時(shí)空被質(zhì)量、有質(zhì)量物體彎曲以后的效應(yīng)。 在愛因斯坦1915年提出廣義相對(duì)論之后的幾個(gè)月,德籍物理學(xué)家史瓦西得到了精確的愛因斯坦場(chǎng)方程解,這就是“沒有轉(zhuǎn)動(dòng)黑洞的史瓦西解”。在史瓦西1916年得到這個(gè)解之后的幾十年間,黑洞研究的進(jìn)展其實(shí)非常緩慢。 在20世紀(jì)30年代末,美國(guó)的原子彈之父奧文海默和他的學(xué)生得到了一種學(xué)說:恒星在死亡塌縮的時(shí)候有可能塌縮成一個(gè)致密的奇點(diǎn),并且推導(dǎo)出了這個(gè)質(zhì)量的下限,3.2個(gè)太陽質(zhì)量左右。 當(dāng)時(shí)間進(jìn)入20世紀(jì)60年代的時(shí)候,黑洞的研究迎來了兩項(xiàng)突破性進(jìn)展:1963年新西蘭的數(shù)學(xué)家羅伊·克爾通過數(shù)學(xué)求解的方式**次精確得到了愛因斯坦場(chǎng)方程的帶有旋轉(zhuǎn)黑洞的精確解。1964年,用觀測(cè)方法發(fā)現(xiàn)了**顆恒星級(jí)的黑洞。正是理論和觀測(cè)同時(shí)的突破,使得黑洞研究領(lǐng)域迎來了它的黃金時(shí)代,在接下來的二三十年,一大批天文學(xué)家、物理學(xué)家投身于這個(gè)領(lǐng)域?,F(xiàn)在人們所知道的有關(guān)于黑洞知識(shí)基本上都是在這段時(shí)間內(nèi)得到的。 在這一時(shí)期,有一位非常**的相對(duì)論物理大師——普林斯頓大學(xué)的教授約翰·惠勒,他不僅學(xué)術(shù)研究非常出色,而且在科學(xué)傳播方面也做了非常多的工作。黑洞這個(gè)名字經(jīng)過他的推廣,才得以被眾人所知。另外,蟲洞這個(gè)名詞也是他提出的。 在惠勒之后,霍金進(jìn)一步發(fā)現(xiàn)了所謂的霍金輻射,改變了之前經(jīng)典廣義相對(duì)論對(duì)于黑洞的認(rèn)識(shí)。 到目前為止,科學(xué)家已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了非常多的黑洞,通過質(zhì)量可以把它們分解為三大類: 一類是恒星量級(jí)的黑洞,也就是說它的質(zhì)量可以從3倍太陽質(zhì)量到100個(gè)太陽質(zhì)量之間。 第二類稱之為**大質(zhì)量的黑洞,它的質(zhì)量起點(diǎn)是幾十萬倍的太陽質(zhì)量,或者上百萬倍的太陽質(zhì)量,一直到幾十億倍甚至于上百億倍的太陽質(zhì)量。介于其中的這一類黑洞,稱之為中等質(zhì)量的黑洞。但是對(duì)于中等質(zhì)量的黑洞,現(xiàn)在觀測(cè)的直接證據(jù)非常少,但是理論研究證明,它們應(yīng)該是存在的,所以尋找中等質(zhì)量的黑洞也是目前研究的一個(gè)熱門課題。 對(duì)于黑洞,它可以說是宇宙當(dāng)中較為神奇,也是較為簡(jiǎn)單的一類天體。對(duì)于黑洞,只需要3個(gè)物理量就可以描述它,一個(gè)是它的質(zhì)量,一個(gè)是它的轉(zhuǎn)動(dòng),另外一個(gè)就是它的電荷。 在宇宙當(dāng)中,氣體幾乎都是以等離子體狀態(tài)存在,會(huì)存在非常多的自由電荷。如果一個(gè)黑洞帶電,那很*吸附周圍的帶電粒子而達(dá)到電力平衡。所以較終只剩下兩個(gè)物理量,一個(gè)質(zhì)量,一個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng),這個(gè)時(shí)候,就可以通過所謂的克爾度規(guī)來完整描述天體物理學(xué)當(dāng)中的黑洞,科學(xué)家主要的任務(wù)就是測(cè)量黑洞的這兩個(gè)基本量。 在銀河系中,按照理論,還應(yīng)該存在著上億個(gè)恒星量級(jí)的黑洞。但遺憾的是人類到目前為止僅僅探測(cè)到了幾十個(gè),而且只有不到20個(gè)恒星量級(jí)的黑洞有非常精確的質(zhì)量測(cè)量,其他將近上億個(gè)的黑洞,現(xiàn)在并沒有探測(cè)到。(作者茍利軍,系中科院國(guó)家天文臺(tái)研究員)
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從硬件角度出發(fā),可靠性測(cè)試分為兩類: 一是,以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。 二是,企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對(duì)質(zhì)量的認(rèn)識(shí)所開發(fā)的測(cè)試項(xiàng)目。比如一些故障模擬測(cè)試、電壓拉偏測(cè)試、快速上下電測(cè)試等。 下面分別介紹這兩類可靠性測(cè)試。 基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法 產(chǎn)品在生命周期內(nèi)必然承受很多外界應(yīng)力,常見的應(yīng)力有業(yè)務(wù)負(fù)荷、溫
快速溫變?cè)囼?yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響有哪些?
??快速溫變?cè)囼?yàn)可廣泛應(yīng)用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品以及高低溫快速變化環(huán)境下的各種電子元器件,能夠滿足長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)要求??焖贉刈?cè)囼?yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響有哪些?快速溫變?cè)囼?yàn)對(duì)產(chǎn)品有什么影響呢?本文中檢測(cè)與您一起探討! 一、溫度的變化對(duì)產(chǎn)品的影響主要包括:1、對(duì)于由不同材料制成的產(chǎn)品,當(dāng)溫度變化時(shí),產(chǎn)品受熱不均勻,導(dǎo)致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品破裂、玻
光電子元器件物理特性測(cè)試項(xiàng)目: 1、內(nèi)部水汽:確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性:確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值:確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性:確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力:確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性:確定需要焊接的光
HAST試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法
??HAST試驗(yàn)是高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試,也稱高壓蒸煮試驗(yàn)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測(cè)試方法。其目的是通過將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。????????HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與高溫/高濕測(cè)試(85°C/85% RH)相比,HAST 由于濕
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