詳細解析x熒光鍍層測厚儀的應用和性能

時間：2022-06-11

　 x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分和濃度測定。
x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號變?yōu)槟M信號，經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理，計算機的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的各類及各元素的鍍層厚度。
應用領域：
應用于鍍銀、鍍鎳、鍍金、鍍鋅等，廣泛應用于電子電器、高壓開關、電網(wǎng)、汽車配件五金工具、PCB板、半導體封裝、電子連接器等。

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

詞條
詞條說明
x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢
? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作較人性化、較方便。工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W
X-RAY鍍層測厚儀的性能好，實用性強
? ? ?X-RAY鍍層測厚儀的原理：? ? ?被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線
分享一些有關“X光鍍層測厚儀”的使用特點
? ? ? X光鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀向微型、
X光鍍層測厚儀詳細分析功能說明
? ? ?X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標準藥液.? ? ?